[发明专利]姿势检测装置的校正参数生成方法、用于生成姿势检测装置的校正参数的装置以及姿势检测装置有效
申请号: | 200980145327.5 | 申请日: | 2009-11-12 |
公开(公告)号: | CN102216790A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 宇田川裕文;小林祥宏 | 申请(专利权)人: | 爱普生拓优科梦株式会社 |
主分类号: | G01P21/00 | 分类号: | G01P21/00;G01B21/22;G01C19/00;G06F3/033 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 将旋转板(230)设置成使得上表面(231)处于水平(S10),在长方体夹具(210)的表面(221)上,以X轴(第1轴)与表面(212)(第2面)垂直、Y轴(第2轴)与表面(213)(第3面)垂直、Z轴(第3轴)与表面(211)(第1面)垂直的方式,固定姿势检测装置(1)(S12)。并且,在旋转板的上表面上依次固定长方体夹具的与表面(212、213、211)相对的各个表面(S14、S20、S26),使旋转板静止或者以固定角速度旋转而取得姿势检测装置的检测值(S16、818、S22、S24、S28、S30),生成校正参数(S32)。 | ||
搜索关键词: | 姿势 检测 装置 校正 参数 生成 方法 用于 以及 | ||
【主权项】:
一种姿势检测装置的校正参数生成方法,该姿势检测装置包含对角速度或加速度进行检测的第1传感器、第2传感器和第3传感器,所述第1传感器、第2传感器和第3传感器被安装成检测轴分别与相互垂直的第1轴、第2轴和第3轴大致平行,该校正参数生成方法生成校正式的校正参数,该校正式将根据所述第1传感器、所述第2传感器和所述第3传感器的检测信号检测物体姿势的所述姿势检测装置的检测值,校正成以所述第1轴、所述第2轴和所述第3轴为坐标轴的正交坐标系中的检测值,其特征在于,该校正参数生成方法包含以下步骤:将旋转板设置成使得上表面处于水平;在具有相互垂直的第1面、第2面、第3面的长方体形状的夹具的所述第1面上,以所述第1轴与所述第2面垂直、所述第2轴与所述第3面垂直、所述第3轴与所述第1面垂直的方式,固定所述姿势检测装置;第1检测值取得步骤,将所述夹具的与所述第2面相对的面固定在所述旋转板的所述上表面,使所述旋转板静止或以规定角速度旋转,取得所述姿势检测装置的检测值;第2检测值取得步骤,将所述夹具的与所述第3面相对的面固定在所述旋转板的所述上表面,使所述旋转板静止或以规定角速度旋转,取得所述姿势检测装置的检测值;第3检测值取得步骤,将所述夹具的与所述第1面相对的面固定在所述旋转板的所述上表面,使所述旋转板静止或以规定角速度旋转,取得所述姿势检测装置的检测值;以及校正参数生成步骤,根据所取得的检测值生成所述校正参数。
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