[发明专利]植被生长状况分析方法、记录有程序的记录介质和植被生长状况分析器有效

专利信息
申请号: 200980145743.5 申请日: 2009-11-13
公开(公告)号: CN102215666A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 力丸厚;高桥一义;岛村秀树 申请(专利权)人: 株式会社博思科;国立大学法人长冈技术科学大学
主分类号: A01G7/00 分类号: A01G7/00;G01S7/40;G01S13/90;G06T1/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明使得可以使用从诸如人造卫星等的飞行体获得的雷达图像来准确分析长时间段内的植被生长状况。为此,本发明被配置为通过搭载在飞行体上的雷达装置在长时间段内拍摄同一目标区域的地表的雷达图像,并将获取到的多个雷达图像存储在地图数据库内。接着,使用在指定时间拍摄的雷达图像作为基准图像来配准在其它时间拍摄的雷达图像,并提取所述雷达图像中的指定区域的后向散射系数。此外,对于存储在所述地图数据库内的多个雷达图像,基于所述基准图像中的指定区域的后向散射系数来校准其它雷达图像的后向散射系数。然后,基于雷达图像的后向散射系数与植被生长值之间的相互关系,根据其它雷达图像的校准后的后向散射系数来计算在可用雷达图像中所拍摄到的植被的生长值。
搜索关键词: 植被 生长 状况 分析 方法 记录 程序 介质 分析器
【主权项】:
一种植被生长状况分析方法,包括以下步骤:获取步骤,获取通过搭载在飞行体上的雷达装置在一年内多个时间拍摄的同一目标区域的地表的雷达图像;存储步骤,将在所述获取步骤获取到的多个雷达图像存储在地图数据库内;配准步骤,在使用存储在所述地图数据库内的多个雷达图像中的、在一年内所述多个时间中的指定时间拍摄的雷达图像作为基准图像的情况下,使所述多个雷达图像中除所述基准图像以外的、在一年内所述多个时间中除所述指定时间以外的其它时间拍摄的其它雷达图像分别与所述基准图像配准;提取步骤,提取所述多个雷达图像中的指定区域的后向散射系数;校准步骤,基于存储在所述地图数据库内的多个雷达图像的基准图像中的指定区域的后向散射系数,对所述多个雷达图像中除所述基准图像以外的其它雷达图像的后向散射系数进行校准;以及生长值计算步骤,基于雷达图像的后向散射系数与雷达图像示出的植被生长值之间的相互关系,根据所述多个雷达图像中除所述基准图像以外的、在所述校准步骤校准了后向散射系数的其它雷达图像的校准后的后向散射系数,来计算所述其它雷达图像示出的植被生长值。
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