[发明专利]成形片材的缺陷检查装置无效

专利信息
申请号: 200980146403.4 申请日: 2009-11-17
公开(公告)号: CN102224412A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 广濑修 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G01N21/892 分类号: G01N21/892
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 毛利群;蒋骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的缺陷检查装置包含:摄像部(51~5n),对成形片材的二维图像进行多次拍摄而生成多个二维图像数据;线状光源,用于以将线状光源像投影至成形片材中的摄像区域的一部分的方式对成形片材进行照明;搬送装置,在与线状光源的长度方向交叉且与成形片材的厚度方向正交的方向上搬送成形片材,以使成形片材中的线状光源像的位置发生变化;线缺陷用图像分析部(611~61n),根据由摄像部(51~5n)所生成的多个二维图像数据,通过线缺陷检测算法对缺陷进行检测;点缺陷用图像分析部(621~62n),根据由摄像部(51~5n)所生成的多个二维图像数据,通过点缺陷检测算法对缺陷进行检测。由此,可提供能够更确实地检测出各种缺陷的成形片材的缺陷检查装置。
搜索关键词: 成形 缺陷 检查 装置
【主权项】:
一种缺陷检查装置,对成形片材的缺陷进行检测,其特征在于:包含摄像单元、线状光源、移动单元以及线缺陷检测单元;所述摄像单元对所述成形片材的二维图像进行多次拍摄而生成多个二维图像数据;所述线状光源对所述成形片材进行照明,以使该线状光源的像投影至所述成形片材中的被拍摄的部分区域上;所述移动单元使所述成形片材以及所述线状光源中的至少一个在与所述线状光源的长度方向交叉且与所述成形片材的厚度方向正交的方向上移动,以使所述成形片材中的投影有所述线状光源的像的位置发生变化;所述线缺陷检测单元根据由所述摄像单元所生成的多个二维图像数据,对线缺陷进行检测;其中,所述线缺陷检测单元是利用如下算法对线缺陷进行检测的单元,(a)利用函数曲线对所述二维图像数据中的线状光源的像的边缘进行拟合,并将线状光源的像的边缘与函数曲线的距离达到第一阈值以上的部位检测为线缺陷的线缺陷检测算法,或者(b)对所述二维图像数据中的线状光源的像的边缘求出各像素的附近区域的曲率,并将该曲率达到第二阈值以上的部位检测为线缺陷的线缺陷检测算法。
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