[发明专利]螺纹参数的测量方法和装置

摘要

通过测量装置(1)进行的带有螺纹的物体(3)的螺纹参数的测量方法，该测量装置定义空间参照系(X，Y，Z)，并包括检索带有螺纹的物体形状的光学传感器(5)，并定义空间参照系(X′，Y′，Z′)，测量装置(1)具有计算机，该计算机组建描述在空间参照系(X，Y，Z)中表示带有螺纹的物体的二次型的第一矩阵，从而提供两个空间参照系之间的关系。该方法包括下述步骤：a)预定义至少一个光学传感器(5)在带有螺纹的物体上的至少一个轨迹，沿着该轨迹选择测量点以使在这些值上估算出的矩阵满足其具有最大的秩的条件；b)由至少一个光学传感器(5)沿着所述至少一个轨迹执行第一扫描操作并检索预定义的测量点的数据；c)输入这些数据到第一矩阵中并计算将第一空间参照系与第二空间参照系相关的轴变换矩阵，以定义带有螺纹的物体相对于第二空间参照系的相对位置；d)使用轴变换矩阵将检索到的所有数据从第二空间参照系转换到第一空间参照系。

主权项

一种螺纹参数的测量方法，特别是带有螺纹的物体(3)的螺纹参数的测量方法，其中提供测量装置(1)，该测量装置(1)包括适用于检索带有螺纹的物体的形状的至少一个光学传感器(5′，5″)，测量具有前端并定义包括第一坐标轴(X′，Y′，Z′)的第一空间参照系，该测量装置(1)定义包括第二坐标轴(X，Y，Z)的第二空间参照系，提供计算机装置，用于存储预设的算法以计算描述二次型的在第二空间参照系中表示带有螺纹的物体的第一矩阵，从而提供第一和第二空间参照系之间的关系，所述方法包括下述步骤：a)预定义至少一个光学传感器(5′，5″)在带有螺纹的物体上的至少一个轨迹，沿着所述轨迹选择预定义的测量点以使就这些值估算的矩阵具有最大的秩；b)由至少一个光学传感器(5′，5″)沿着所述至少一个轨迹执行第一扫描操作并检索预定义的测量点的数据；c)输入这些数据到预设的算法中并计算将第一空间参照系与第二空间参照系相关联的轴变换矩阵，以定义带有螺纹的物体相对于该第二空间参照系的相对位置；d)使用所述轴变换矩阵将检索到的所有数据从第二空间参照系转换到第一空间参照系。