[发明专利]用于分析分子污染物从样本除气的装置和方法无效
| 申请号： | 200980149157.8 | 申请日： | 2009-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN102246020A | 公开（公告）日： | 2011-11-16 |
| 发明（设计）人： | T.H.J.比肖普斯;P.K德博克斯;P.V.E.克鲁泽曼;R.J.T.索尔斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/22 | 分类号： | G01N1/22 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李亚非;刘鹏 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于分析分子污染物（22）从样本（2）除气的装置（100，200）和方法。该装置（100，200）包括用于容纳样本（2）的低压腔室（1），其中该低压腔室（1）内部的压力介于10-3mbar与10mbar之间。此外，该装置（100，200）包括：用于在低压腔室（1）中提供层状气流（12，33，34）的构件（4，5，7，9），其中气流的第一部分（13，35）捕获和运输从样本（2）除气的分子污染物（22）；以及样本（2）下游第一位置处的用于接收气流的第一部分（13，35）的构件（3，40）。分析器（3）分析气流的第一部分（13，35）的内含物。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 分子 污染物 样本 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于分析分子污染物（22）从样本（2）除气的装置（100，200），该装置（100，200）包括：‑ 用于容纳样本（2）的低压腔室（1），其中该低压腔室（1）内部的压力介于10‑3mbar与10mbar之间；‑ 用于在低压腔室（1）中提供层状气流（12，33，34）的构件（4，5，7，9），其中气流的第一部分（13，35）捕获和运输从样本（2）除气的分子污染物（22）；‑ 样本（2）下游第一位置处的用于接收气流的第一部分（13，35）的构件（3，40）；以及‑ 用于分析气流的第一部分（13，35）的内含物的分析器（3）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司，未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980149157.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
