[发明专利]连续进给式化学气相沉积无效
申请号: | 200980149841.6 | 申请日: | 2009-10-12 |
公开(公告)号: | CN102246273A | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
发明(设计)人: | 何甘 | 申请(专利权)人: | 奥塔装置公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 苗源;郑霞 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明的实施方式一般涉及一种用于在连续化学气相沉积(CVD)工艺过程中形成多层材料的方法。在一个实施方式中,一种用于在连续CVD工艺过程中形成多层材料的方法被提供,该方法包括连续地推进多个晶片通过具有至少四个沉积区的沉积系统。多层材料被沉积在每个晶片上,以便在每个沉积区处沉积一层。该方法提供推进每个晶片通过每个沉积区,同时从第一沉积区沉积第一层、从第二沉积区沉积第二层、从第三沉积区沉积第三层、以及从第四沉积区沉积第四层。本文所述的实施方式可被用于在晶片或基底上形成各类材料,尤其是在GaAs晶片上形成III/V族材料。 | ||
搜索关键词: | 连续 进给 化学 沉积 | ||
【主权项】:
一种用于在连续化学气相沉积工艺过程中形成多层材料的方法,所述方法包括:连续地推进多个晶片通过沉积系统,其中,所述沉积系统包括第一沉积区、第二沉积区、第三沉积区和第四沉积区;在所述第一沉积区内在第一晶片上沉积缓冲层;在所述第二沉积区内在所述第一晶片上沉积牺牲层,同时在所述第一沉积区内在第二晶片上沉积所述缓冲层;在所述第三沉积区内在所述第一晶片上沉积钝化层,同时在所述第二沉积区内在所述第二晶片上沉积所述牺牲层,并且同时在所述第一沉积区内在第三晶片上沉积所述缓冲层;以及在所述第四沉积区内在所述第一晶片上沉积砷化镓活性层,同时在所述第三沉积区内在所述第二晶片上沉积所述钝化层,同时在所述第二沉积区内在所述第三晶片上沉积所述牺牲层,并且同时在所述第一沉积区内在第四晶片上沉积所述缓冲层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造