[发明专利]还原低温基底上的薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200980150327.4 申请日: 2009-03-25
公开(公告)号: CN102245804A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: D·S·波普;K·A·施罗德;I·M·罗森 申请(专利权)人: NCC纳诺责任有限公司
主分类号: C23C18/00 分类号: C23C18/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 彭飞;林柏楠
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了在基底上制造导电薄膜的方法。先将可还原的金属化合物和还原剂分散在液体中。然后将该分散体以薄膜形式沉积在基底上。然后使所述薄膜与所述基底一起暴露于脉冲电磁发射,以使所述可还原的金属化合物与所述还原剂化学反应,从而使所述薄膜变导电。
搜索关键词: 还原 低温 基底 薄膜 方法
【主权项】:
在基底上制造导电薄膜的方法,所述方法包括:将可还原的金属化合物和还原剂分散在液体中;将所述分散体以薄膜形式沉积在基底上;和使所述薄膜与所述基底一起在环境气氛中暴露于脉冲电磁发射,以使所述可还原的金属化合物与所述还原剂进行化学反应,从而使所述薄膜导电。
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