[发明专利]通过X射线拣选从含碳酸钙的岩石中分离矿物杂质的方法有效
| 申请号： | 200980150752.3 | 申请日： | 2009-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN102256712A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | B·塔瓦克里;T·曼格尔博格;M·雷辛格 | 申请（专利权）人： | OMYA发展股份公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/36 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 任永利 |
| 地址： | 瑞士奥*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及通过将含碳酸钙的岩石粉碎到粒度为1mm-250mm、借助于双能量X射线透射拣选装置分离碳酸钙颗粒来从含碳酸钙的岩石中分离矿物杂质的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 射线 拣选 碳酸钙 岩石 分离 矿物 杂质 方法 | ||
【主权项】：
从含碳酸钙的岩石中分离伴生矿物杂质的方法，其通过以下步骤进行： 将所述碳酸钙岩石粉碎并分级为1mm 250mm的粒度， 通过借助于下游检测区和通过计算机控制的评价设备随着由穿透所述颗粒流的辐射产生的传感器信号而可控制地除去包含不同于碳酸钙的组分的颗粒来分离碳酸钙颗粒，所述辐射由X射线源发射并在至少一个传感器设备中被捕获，其中允许所述X辐射穿过与彼此不同的能谱有关的至少两个滤光器装置，所述至少两个滤光器装置安置在所述至少一个传感器设备和传感器线路的上游，所述传感器线路具有多个相对于颗粒流横向安置的单独像素作为传感器设备，传感器线路为所述至少两个滤光器中的每一个而提供。
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