[发明专利]用于以光学方式检查混浊介质内部的设备和方法有效
| 申请号： | 200980150816.X | 申请日： | 2009-10-06 |
| 公开（公告）号： | CN102246023A | 公开（公告）日： | 2011-11-16 |
| 发明（设计）人： | M·C·范贝克;W·H·J·伦森;R·哈贝尔斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01N21/49;G01N21/59;A61B5/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供了一种用于以光学方式检查混浊介质(5)内部的设备(1；10；20；30；40)。所述设备包括适于照射要检查的混浊介质(5)的照明系统(2；12；22；32；42)以及适于从检测到的光产生图像的成像设备(106)。所述照明系统(2；12；22；32；42)适于至少以如下模式工作：第一模式，其中通过照射混浊介质(5)和周围区域采集宽区域图像。根据该宽区域图像，能够确定混浊介质(5)实际所在的一个或多个感兴趣区域(110)。然后，以第二模式照射这些感兴趣区域(110)。因而，不会有未耦合到混浊介质(5)且可能导致成像设备(106)的检测器单元过度曝光的光到达成像设备(106)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 方式 检查 混浊 介质 内部 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于以光学方式检查混浊介质内部的设备(1；10；20；30；40)，包括：适于照射要检查的混浊介质的照明系统(2；12；22；32；42)；以及适于从检测到的光产生图像的成像设备(106)；其中，所述照明系统(2；12；22；32；42)适于至少以如下模式工作：第一模式，其中照射大区域；以及第二模式，其中照射所述大区域的至少一个选定区域(110)。
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