[发明专利]光半导体装置用引线框、其制造方法及光半导体装置有效
申请号: | 200980151768.6 | 申请日: | 2009-12-24 |
公开(公告)号: | CN102265417A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 小林良聪;小关和宏;菊池伸 | 申请(专利权)人: | 古河电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L33/62 | 分类号: | H01L33/62 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 曹立莉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种光半导体装置用引线框,其在导电性基体1上形成有由银或银合金形成的层2,其中,具有由耐腐蚀性优异的金属或其合金形成的表层4作为最外层;在该表层的最表面部,耐腐蚀性优异的金属成分浓度为50质量%以上;在所述表层与所述由银或银合金形成的层之间,形成有作为所述表层的主成分的金属材料与银的固溶体层3。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 引线 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种光半导体装置用引线框,其在导电性基体上形成有由银或银合金形成的层,其中,具有由耐腐蚀性优异的金属或其合金形成的表层作为最外层;在该表层的最表面部,耐腐蚀性优异的金属成分浓度为50质量%以上;所述表层的包覆厚度为0.001~0.25μm;并且,在所述表层与所述由银或银合金形成的层之间,形成有作为所述表层的主成分的金属材料与银的固溶体层。
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