[发明专利]添加前体至氧化硅化学气相沉积以增进低温间隙填充的方法无效
申请号: | 200980151841.X | 申请日: | 2009-11-19 |
公开(公告)号: | CN102282649A | 公开(公告)日: | 2011-12-14 |
发明(设计)人: | S·文卡特拉马曼;H·哈玛纳;M·A·埃尔南德斯;N·K·印戈尔;P·E·吉 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L21/31;H01L21/76 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 将氧化硅层沉积于基板上的方法涉及使一含硅前体、一氧化气体、水及一添加前体流入一处理腔室中以使得在整个该基板表面上达成一均匀的氧化硅生长速度。根据实施例生长的氧化硅层的表面在与该添加前体一起生长时可具有一降低的粗糙度。在本发明的其它方面中,氧化硅层是通过使一含硅前体、一氧化气体、水及一添加前体流入一处理腔室中来沉积于该表面上具有沟槽的一图案化基板上,从而使得这些沟槽得以填充,其中该氧化硅填充材料内的空隙具有减少的数量及/或减小的尺寸。 | ||
搜索关键词: | 添加 前体至 氧化 化学 沉积 增进 低温 间隙 填充 方法 | ||
【主权项】:
一种在处理腔室中的基板上形成氧化硅层的方法,包含:使含硅前体及氧化气体流入该处理腔室中;使添加前体流入该处理腔室中;及通过化学气相沉积自该含硅前体、该氧化气体及该添加前体在该基板上形成氧化硅层,其中该添加前体促进整个基板上的氧化硅层的均匀生长速度且降低该氧化硅层的粗糙度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造