[发明专利]光学断层图像摄像设备和光学断层图像摄像方法有效
申请号: | 200980152972.X | 申请日: | 2009-12-18 |
公开(公告)号: | CN102264281A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 广濑太 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B3/12 | 分类号: | A61B3/12;A61B3/15;A61B5/00;G01B9/02;G02B21/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供了以下一种光学断层图像摄像设备:当对被检体的断层图像摄像时,能够监视由测量光束组相对于被检体的入射位置和入射角度所表示的入射状态,使该测量光束组在该被检体的预定位置处形成图像,并且高速获得断层图像。该光学断层图像摄像设备的特征在于:将从光源发射出的要分割的多个光束和从多个光源发射出的多个光束之一分割成测量光束组和参考光束组,并且该光学断层图像摄像设备包括用于获得被检体的监视图像的监视装置,由此能够监视由测量光束组相对于被检体的入射位置和入射角度所表示的入射状态。 | ||
搜索关键词: | 光学 断层 图像 摄像 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种光学断层图像摄像设备,其被配置为:将从光源发射出的多个光束或从多个光源发射出的多个光束分割成测量光束组和参考光束组,并且将所述测量光束组和所述参考光束组分别引导至被检体和参考镜;以及使用被所述被检体反射或散射的测量光束组的返回光束组以及被所述参考镜反射的参考光束组,拍摄所述被检体的断层图像,所述光学断层图像摄像设备包括监视装置,所述监视装置用于获得所述被检体的监视图像,所述监视装置能够监视由所述测量光束组相对于所述被检体的入射位置和入射角度所表示的入射状态。
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