[发明专利]用于同时检测粒子的尺寸和荧光性的紧凑型检测器有效
| 申请号： | 200980154882.4 | 申请日： | 2009-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN102308196A | 公开（公告）日： | 2012-01-04 |
| 发明（设计）人： | 约翰·Y·巴比特;梁晨 | 申请（专利权）人： | 百维吉伦特系统有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈炜;李德山 |
| 地址： | 美国亚*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了一种粒子检测和分类系统。该系统通过测量粒子散射的光来确定所测粒子的尺寸。同时，该系统通过测量来自粒子的荧光来确定所测粒子是生物的还是非生物的。该系统使用抛物面反射器并且可选择地使用球面反射器来收集荧光。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 同时 检测 粒子 尺寸 荧光 紧凑型 检测器 | ||
【主权项】：
一种粒子检测和分类系统，包括：采样区，所述采样区包括待测流体；光源，所述光源位于所述采样区的第一侧；第一检测器，所述第一检测器位于所述采样区的第二侧；第二检测器，所述第二检测器位于所述采样区的第二侧；以及抛物面反射器，所述抛物面反射器具有位于所述采样区的第一侧的顶点和位于所述采样区内的焦点；其中，所述光源沿第一轴线向所述采样区提供基本准直的光，所述第一检测器测量在所述采样区的第二侧方向上以预定角度散射的光，所述抛物面反射器收集所述采样区内的受照射粒子由于荧光性而发出的光，并使所收集的光以基本准直的方式导向所述采样区的第二侧方向，所述第二检测器测量所述抛物面反射器收集的荧光。
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