[发明专利]分析系统

摘要

本发明涉及一种分析具有缓慢旋转部件的机器的状态的方法，包括：以低于每分钟50转的转速(fROT)旋转可旋转部件；使用具有使其在一定的谐振频率(fR)谐振的机械特征的传感器产生取决于从所述轴的旋转发出的机械振动的模拟电测量信号(SEA)；响应所接收的模拟测量数据，以采样频率(fS)对所述模拟测量信号进行采样，以便产生数字测量数据序列(SMD)；进行所述数字测量数据序列(SMD)的数字滤波(240)，以便获得滤波后的测量信号(SF)，以便实现具有较高频率和较低频率之间带宽的信号；所述较低频率(fLC)低于一定的谐振频率(fR)，而所述较高频率(fUC)高于一定的谐振频率(fR)；通过数字整流所述滤波后的测量信号以及通过数字低通滤波所述整流的滤波后测量信号，以便产生数字包络信号(SENV、SMDP)，来响应所述滤波后的测量信号(SPBMD)产生所述数字包络信号(SENV、SMDP)；执行状态分析功能(F1、F2、Fn)以分析取决于所述数字包络信号(SENV、SMDP)的机器的状态。

主权项

一种分析机器状态的装置，所述机器具有以某转速关于第二机器部件可旋转运动的第一部件，所述装置包括：冲击脉冲测量传感器，用于监视所述可运动部件，以便产生至少一个模拟测量信号，该模拟测量信号包括取决于所述可旋转运动部件的振动运动的至少一个振动信号分量；其中，所述振动信号分量具有取决于所述第一部件的转速(fROT)的重复频率(fD)；所述测量信号包括噪声也包括所述振动信号分量，所以所述测量信号具有关于所述振动信号分量的第一信噪比值；A/D转换器(40、44)，响应所述测量信号产生数字测量数据序列(SMD)；所述数字测量数据序列(SMD)具有第一采样率(fS)；第一数字滤波器(240)，进行所述数字测量数据序列(SMD)的数字滤波，以便获得滤波后的测量信号(SF)；包络器，响应所述滤波后的测量信号(SF)产生第一数字信号(SENV、SMDP)；降采样器，进行所述第一数字信号(SENV、SMDP)的降采样，以实现具有降低采样频率(fSR1、fSR2)的降采样数字信号(SRED)；所述降采样器(470、470A、470B)具有第一输入，用于接收所述第一数字信号(SENV、SMDP)；以及第二输入，用于接收指示所述可变转速(fROT)的信号；第三输入，用于接收指示输出采样率设置信号的信号；所述降采样器(470、470A、470B)适于根据以下诸项产生所述降采样数字信号(SRED)：所述第一数字信号(SMD、SENV)，所述指示所述转速(fROT)的信号，以及所述指示输出采样率设置信号的信号；其中，所述降采样器(470、470A、470B)适于产生所述降采样数字信号(SRED)，使得所述转速变化时所述旋转部件每转的样点值数目保持在基本上恒定值；以及增强器(320)，具有接收所述降采样数字信号(SRED)的输入；所述增强器适于产生具有所述至少一个振动信号分量对应的重复信号分量的输出信号序列(O)，使得所述输出信号序列(O)具有关于所述振动信号分量的第二信噪比值；所述第二信噪比值高于所述第一信噪比值；以及分析器(105；290；290T；294、290F)，用于响应所述输出信号序列(O)，指示取决于所述可旋转运动部件的所述振动运动的机器状态。