[发明专利]LED芯片测试装置有效
| 申请号： | 200980157166.1 | 申请日： | 2009-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN102326090A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 柳炳韶 | 申请（专利权）人： | QMC株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人： | 许向彤;林锦辉 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种LED芯片测试装置，所述LED芯片测试装置测量LED芯片的特性。所述LED芯片测试装置包括：转动构件，所述转动构件支撑所述LED芯片并且使所述LED芯片转动到测试该LED芯片的特性的测试位置；以及测试机，所述测试机与所述转动构件相邻地安装并且用于测量所述测试位置处的所述LED芯片的特性。 | ||
| 搜索关键词： | led 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种LED芯片测试装置，所述LED芯片测试装置测量LED芯片的特性，所述装置包括：转动构件，所述转动构件支撑所述LED芯片并且使所述LED芯片转动到测试该LED芯片的特性的测试位置；以及测试机，所述测试机与所述转动构件相邻地安装并且用于测量所述测试位置处的所述LED芯片的特性。
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