[发明专利]光电动势装置及其制造方法有效
申请号: | 200980158689.8 | 申请日: | 2009-04-14 |
公开(公告)号: | CN102396073A | 公开(公告)日: | 2012-03-28 |
发明(设计)人: | 中谷光德 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李今子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 得到一种在表面和背面的电极中得到期望的电阻值、并且即使基板厚度与以往相比变薄也能够比以往提高转换效率的光电动势装置的制造方法。包含如下工序:在p型硅基板(12)的第1面侧形成扩散了n型杂质的n型扩散层(13);在n型扩散层(13)上形成防反射膜(14);在硅基板(12)的第2面上形成由SiONH膜构成的背面钝化膜(15);在防反射膜(14)上以表面电极形状形成包含银的膏材料;焙烧硅基板(12)来形成与n型扩散层(13)接触的表面电极(20);在背面钝化膜(15)上以背面电极形状形成包含金属的膏材料;以及向背面电极的形成位置照射激光来使膏材料中的金属熔融、凝固而形成背面电极(30)。 | ||
搜索关键词: | 电动势 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种光电动势装置的制造方法,其特征在于,包含:杂质扩散层形成工序,在第1导电型的硅基板的第1主表面侧形成扩散了第2导电型的杂质的杂质扩散层;防反射膜形成工序,在所述杂质扩散层上形成防反射膜;背面钝化膜形成工序,在所述硅基板的第2主表面上形成由SiONH膜构成的背面钝化膜;表面电极形状形成工序,在所述防反射膜上以表面电极形状形成包含银的膏材料;表面电极形成工序,焙烧所述硅基板来形成与所述杂质扩散层接触的表面电极;背面电极形状形成工序,在所述背面钝化膜上以背面电极形状形成包含金属的膏材料;以及背面电极形成工序,向所述背面电极的形成位置照射激光来使所述膏材料中的金属熔融、凝固而形成背面电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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