[发明专利]制造围阻层的方法和材料以及由其制成的器件有效
申请号: | 200980160534.8 | 申请日: | 2009-12-21 |
公开(公告)号: | CN102470660A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | A·费尼莫尔;J·M·兹芭斯 | 申请(专利权)人: | E.I.内穆尔杜邦公司 |
主分类号: | B32B37/02 | 分类号: | B32B37/02;B32B38/08;B32B38/14;B32B39/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 朱黎明 |
地址: | 美国特*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了在第一层上形成围阻的第二层的方法,所述方法包括:形成具有第一表面能的第一层;用底涂层处理所述第一层;使所述底涂层以图案形式暴露于辐射下,获得暴露区域和未暴露区域;使所述底涂层显影以有效地从所述暴露区域或所述未暴露区域移除所述底涂层,获得具有底涂层的图案的第一层,其中底涂层的图案具有比所述第一表面能高的第二表面能;并且通过在所述第一层上的底涂层图案上液相沉积来形成所述第二层。本发明还提供了由所述方法制备的有机电子器件。 | ||
搜索关键词: | 制造 围阻层 方法 材料 以及 制成 器件 | ||
【主权项】:
在第一层上形成围阻的第二层的方法,所述方法包括:形成具有第一表面能的第一层;用底涂层处理所述第一层;使所述底涂层以图案形式暴露于辐射下,获得暴露区域和未暴露区域;使所述底涂层显影以有效地从所述暴露区域或所述未暴露区域移除所述底涂层,获得具有底涂层的图案的第一层,其中所述底涂层的图案具有比所述第一表面能高的第二表面能;并且通过在所述第一层上的底涂层的图案上液相沉积来形成所述第二层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于E.I.内穆尔杜邦公司,未经E.I.内穆尔杜邦公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980160534.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。