[发明专利]探针装置及测试装置无效
| 申请号： | 200980161607.5 | 申请日： | 2009-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN102576049A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 甲元芳雄 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/302 | 分类号： | G01R31/302;G01R1/06;G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种探针装置，是与对象器件之间传送信号的测试装置，其具备：接触部，其利用与对象器件的端子接触，而电连接于对象器件；非接触部，其在未与对象器件的端子接触的状态下，与对象器件传送信号；以及保持部，其用于保持接触部和非接触部，可在连结非接触部和对象器件的对应端子的连接方向，改变接触部和非接触部的相对位置。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 装置 测试 | ||
【主权项】：
一种探针装置，是与对象器件之间传送信号的探针装置，其具备：接触部，其通过与所述对象器件的端子接触，而电连接于所述对象器件；非接触部，其以与所述对象器件的端子不接触的状态，与所述对象器件传送信号；以及保持部，其在连结所述非接触部和所述对象器件的对应区域的连接方向，可改变所述接触部和所述非接触部的相对位置地保持所述接触部和所述非接触部。
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