[发明专利]射频综合样品检查方法无效

专利信息
申请号: 200980162574.6 申请日: 2009-09-30
公开(公告)号: CN102648406A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: J-B.佩林;J-R.菲利普 申请(专利权)人: 分光扫描公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;A61B6/02;G06T11/00;G06T19/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 郭定辉
地址: 法国克*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及通过所谓射频综合法的连续无损样品检查方法,其可以被集成到管理所述样品的生命周期的过程中。此方法借助于至少一个X射线源和至少一个与所述源形成一对的数字传感器操作,对于每个样品的至少一个横断面的每次实时生成,源和传感器在运动空间内沿着反向和同向轨迹移动。
搜索关键词: 射频 综合 样品 检查 方法
【主权项】:
一种借助于至少一个X射线源和至少一个与所述源配对的数字传感器的、利用数字实时3D射线照相的连续样品检查方法,X射线源与数字传感器都根据反向和同向轨迹运动,其特征在于I.在第一阶段,通过实现如下步骤序列,生成了所述待测标准样品的数字模型和被选为最相关的、在所述X射线源及用于获取射线照相图像的相关传感器的运动空间中的最佳轨迹的数字模型:A‑在称为“所述标准样品的设计和/或定义的步骤”的第一步骤中,其实现:‑A1:所述样品的3D参数设置;‑A2:由构成所述样品的各种物质的X射线吸收法则的3D制图;‑A3:所述样品的至少一个3D剖面的定义。B‑在称为“参数传递和转换的步骤”的第二步骤中,其实现:B1‑:所述步骤(A)的参数的传递和转换;B2‑:所述各种物质的X射线吸收法则的样品的体积分布;B3‑:所述步骤A3中至少一个3D剖面坐标的计算。C‑在称为“仿真与最优化步骤”的第三步骤中,其实现了至少一个3D剖面重建所需要的最佳投影的仿真和搜索;‑C1:通过仿真所述样品的射线照相投影从由步骤(B)产生的数据;‑C2:通过借助于选择所述一个或多个剖面的最相关图像的最优化算法控制投影的仿真;D‑在称为“轨迹生成步骤”的第四步骤中,其从在所述步骤C2结束时获得的照片位置集合中,实现所述X射线源和传感器在它们的运动空间中的最佳轨迹的生成。E‑在称为“获取运动的集成步骤”的第五步骤中,其生成试图用于实现之前选择的所述射线照相图像的连续获取动作的机械装置的至少一个命令文件。II.在第二阶段,其为了实时连续地测试这些真实样品,通过使用在之前传递的所述X射线源和所述关联传感器的最佳轨迹,对真实样品实时连续地实现所述射线照相图像获取。III.在第三阶段,在阶段II时所获取的射线照相图像构成用于所述已测真实样品的3D剖面的实时重建的算法的输入参数。IV.在第四阶段,所述3D剖面图像由图像分析软件和/或操作者(自然人)采用。
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