[发明专利]存储器芯片有效
| 申请号： | 201010000204.7 | 申请日： | 2010-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN102117655A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 杜盈德 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/02 | 分类号： | G11C16/02 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器芯片，其操作于多个模式且包括选择输入垫以及判断电路。判断电路耦接选择输入垫，用以根据选择输入垫的当前状态来产生判断信号。判断信号指示出存储器芯片正操作于哪一模式下。判断电路包括检测单元以及取样单元。检测单元耦接第一电压源以及选择输入垫，且受控于一控制信号以根据选择输入垫的当前状态来产生至少一检测信号。取样单元接收该至少一检测信号，且在该控制信号被使能之后对该至少一检测信号进行取样以产生判断信号。当控制信号被使能时，该至少一检测信号的准位被第一电压源提供的电压所改变。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 芯片 | ||
【主权项】：
一种存储器芯片，其特征在于，所述存储器芯片操作于多个模式，，所述存储器芯片包括：一选择输入垫，具有多个状态；以及一判断电路，耦接所述选择输入垫，用以根据所述选择输入垫的当前状态来产生一判断信号，其中，所述判断信号指示出所述存储器芯片正操作于哪一模式下，且所述判断电路包括：一检测单元，耦接一第一电压源以及所述选择输入垫，且受控于一控制信号以根据所述选择输入垫的当前状态来产生至少一检测信号；以及一取样单元，用以接收所述至少一检测信号，且在所述控制信号被使能之后对所述至少一检测信号进行取样以产生所述判断信号；其中，当所述控制信号被使能时，所述至少一检测信号的准位被所述第一电压源提供的电压所改变。
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