[发明专利]射频识别设备及其测试方法无效
申请号: | 201010000726.7 | 申请日: | 2010-01-15 |
公开(公告)号: | CN101930527A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 姜熙福;洪锡敬 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | G06K7/00 | 分类号: | G06K7/00;G01R31/28 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 郭放;黄启行 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明公开了一种射频识别(RFID)设备及其测试方法。在该测试方法中,RFID设备根据时间共享机制,接收不同种类的标签选择地址和存储地址,以测试一个或多个RFID标签。RFID设备包括标签芯片和测试芯片。标签芯片在从外部节点接收到测试输入信号时执行测试操作,并且向外输出指示测试操作的结果的测试输出信号。测试芯片在测试模式期间经测试焊盘从外部节点接收到地址和数据时,测试所述标签芯片。 | ||
搜索关键词: | 射频 识别 设备 及其 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种射频识别(RFID)设备,包括:标签芯片,配置用于当从该标签芯片的外部的节点接收到测试输入信号时执行测试操作,并且将测试输出信号输出到该外部节点,所述测试输出信号提供所述测试操作的结果;和测试芯片,配置用于当从该测试芯片的外部的节点接收到地址和数据时测试所述标签芯片。
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