[发明专利]半导体装置及其芯片选择方法有效
申请号: | 201010000913.5 | 申请日: | 2010-01-20 |
公开(公告)号: | CN102054823A | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 陈伸显;李锺天 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | H01L25/00 | 分类号: | H01L25/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 郭放;黄启行 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及一种具有多个堆叠芯片的半导体装置,包括:穿透硅通孔(TSV),配置为将多个芯片耦合在一起,并配置为串联耦合到多个电压降单元;多个信号转换单元,多个信号转换单元中的每一个配置为将从多个芯片中的相应的一个芯片的电压降单元输出的电压转换成数字编码信号,并且将该数字编码信号提供作为多个芯片中的相应的一个芯片的芯片识别信号;以及多个芯片选择信号产生单元,多个芯片选择信号产生单元中的每一个配置为将芯片识别信号与芯片选择识别信号比较,以产生多个芯片中的相应的一个芯片的芯片选择信号。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 芯片 选择 方法 | ||
【主权项】:
一种具有多个芯片的半导体装置,包括:穿透硅通孔TSV,配置为将所述多个芯片耦合在一起,并配置为串联耦合到多个电压降单元,其中,所述多个电压降单元中的每一个被包括在所述多个芯片中的相应的一个芯片内;多个信号转换单元,所述多个信号转换单元中的每一个设置于所述多个芯片中的相应的一个芯片内,并且配置为将从所述多个芯片中的相应的一个芯片的电压降单元输出的电压转换成数字编码信号,并将所述数字编码信号提供作为所述多个芯片中的相应的一个芯片的芯片识别信号;以及多个芯片选择信号产生单元,所述多个芯片选择信号产生单元中的每一个设置于所述多个芯片中的相应的一个芯片内,并且配置为将所述芯片识别信号与芯片选择识别信号比较,以产生所述多个芯片中的相应的一个芯片的芯片选择信号。
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