[发明专利]熔断器老化状态多因子检测系统及老化状态评估方法

摘要

本发明涉及一种熔断器老化状态多因子检测系统，它包括，用于与待测熔断器相串联的可调恒流源、用于模拟待测熔断器现场运行工况的可调恒温箱、温度采集装置、用于定期或实时测量待测熔断器在恒温箱内的电阻数据的电阻测量仪、PC机，所述的PC机与多通道采集卡的输出端相连接，其实时接收多通道采集卡采集的温度数据并进行熔断器温升特性分析，同时结合电阻测量仪传输的电阻数据对熔断器是否老化进行判断。本发明熔断器老化状态多因子检测系统可以对采购、库存以及在役的熔断器进行测量，通过该系统，将有效增强熔断器使用的安全性。

主权项

一种熔断器老化状态多因子检测系统，其特征在于：它包括，可调恒流源(1)，用于与待测熔断器相串联，为不同容量等级的待测熔断器提供模拟电流；可调恒温箱(2)，内设有用于将待测熔断器安装在其中的测试板，所述的可调恒温箱(2)用于模拟待测熔断器现场运行工况；温度采集装置(3)，包括与待测熔断器相接触用于测量熔断器上多点温度的热电偶(31)、与热电偶(31)输出端相连接的多通道采集卡(32)；电阻测量仪(4)，其用于定期或实时测量待测熔断器(10)在恒温箱(2)内的电阻数据；PC机(5)，所述的PC机(5)与多通道采集卡(32)的输出端相连接，其实时接收多通道采集卡(32)采集的温度数据并进行熔断器温升特性分析，同时结合电阻测量仪(4)传输的电阻数据对熔断器是否老化进行判断。