[发明专利]多色调光掩模、多色调光掩模制造方法以及图案转印方法有效
申请号: | 201010003908.X | 申请日: | 2010-01-13 |
公开(公告)号: | CN101788757A | 公开(公告)日: | 2010-07-28 |
发明(设计)人: | 坂本有司 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00;G03F1/08 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种多色调光掩模、多色调光掩模制造方法以及图案转印方法。一种在被转印体上的抗蚀剂膜上形成具有两个以上不同抗蚀剂残膜值的抗蚀剂图案的多色调光掩模,具有形成有遮光部、透光部和半透光部的转印图案。遮光部是在透明基板上形成遮光膜而成的。透光部是露出透明基板而形成的。半透光部具有由形成在透明基板上的半透光膜构成的正常部、和由形成在透明基板上的修正膜构成的修正部。透光部与修正部之间针对i线~g线的波长光的相位差为80度以下。 | ||
搜索关键词: | 多色 调光 制造 方法 以及 图案 | ||
【主权项】:
一种多色调光掩模,其通过分别对形成在透明基板上的至少半透光膜和遮光膜进行图案加工,从而具有形成有遮光部、透光部和半透光部的转印图案,通过利用该转印图案对透射的曝光光量进行控制,从而在被转印体上的抗蚀剂膜上形成具有两个以上不同抗蚀剂残膜值的抗蚀剂图案,该多色调光掩模的特征在于,所述遮光部是在所述透明基板上至少形成所述遮光膜而形成的,所述透光部是露出所述透明基板而形成的,所述半透光部具有由形成在所述透明基板上的半透光膜构成的正常部、和由形成在所述透明基板上的修正膜构成的修正部,所述透光部与所述修正部之间针对从波长365nm的i线到波长436nm的g线的波长区域中的波长光的相位差为80度以下。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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