[发明专利]触摸面板和使用触摸面板的坐标检测方法有效
| 申请号： | 201010005409.4 | 申请日： | 2010-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN101782828A | 公开（公告）日： | 2010-07-21 |
| 发明（设计）人： | 中岛孝;清水信吉;近藤幸一;羽山正伸;远藤孝夫 | 申请（专利权）人： | 富士通电子零件有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/045 | 分类号： | G06F3/045 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 敦放 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种触摸面板，包括下导电膜、放置于下导电膜的四个侧边的边缘部分中的四个电极、以及位于下导电膜之上的上导电膜，使得上导电膜和下导电膜彼此相对，以在上导电膜与下导电膜相接触时检测下导电膜中的电位。上导电膜包括不包含透明导电材料的分割部分和被分割部分划分的分割导电部分。触摸面板被配置为在上导电膜和下导电膜在接触点处相互接触时检测分割导电部分中的每个接触点的电位，从而基于所检测的电位来检测各个接触点的坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 触摸 面板 使用 坐标 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种触摸面板，包括：形成于绝缘材料的衬底上的透明导电材料的下导电膜；放置于所述下导电膜的四个边的边缘部分中以在所述下导电膜中产生电位分布的四个电极；以及放置于所述下导电膜之上的透明导电材料的上导电膜，使得所述上导电膜和所述下导电膜彼此相对以在所述上导电膜与所述下导电膜相接触时检测所述下导电膜中的电位，其中，所述上导电膜包括不包含透明导电材料的多个分割部分和被所述多个分割部分划分并且包含所述透明导电材料的多个分割导电部分，并且所述触摸面板被配置为在所述上导电膜和所述下导电膜在接触点处相互接触时检测所述多个分割导电部分中的每个所述接触点的电位，从而基于所检测的电位来检测各个接触点的坐标。
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