[发明专利]一种对复杂控制类芯片的随机测试方法无效
| 申请号： | 201010011309.2 | 申请日： | 2010-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN101777507A | 公开（公告）日： | 2010-07-14 |
| 发明（设计）人： | 李仁刚;周恒钊;张磊;李拓;张峰 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250014山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，属于集成电路测试技术领域，充分考虑影响随机数据或者事务的因素，采用固定约束条件、完全随机以及定向随机相结合的方法，配置事务生成文件的约束条件，实现对复杂控制类芯片——即带随机约束的芯片的测试验证；需要考虑的因素和需要实现的配置包括：复杂控制类芯片的网络结构、影响产生随机事务的因素、测试平台结构、事务随机生成文件、初始化随机生成文件、网络传输延时随机生成文件。本发明在时间有限的测试过程中，采用随机测试方法，针对芯片已知和未知的测试空间，随机产生测试事务激励，大大节省了人力开销，同时也在验证出错概率减少的基础上，扩大了验证的测试空间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 复杂 控制 芯片 随机 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，其特征在于充分考虑影响随机数据或者事务的因素，采用固定约束条件、完全随机以及定向随机相结合的方法，配置事务生成文件的约束条件，实现对复杂控制类芯片——即带随机约束的芯片的测试验证；需要考虑的因素和需要实现的配置包括：复杂控制类芯片的网络结构、影响产生随机事务的因素、测试平台结构、事务随机生成文件、初始化随机生成文件、网络传输延时随机生成文件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
