[发明专利]用于NVM测试中不同品种参数之间坐标的对应方法有效
| 申请号： | 201010027218.8 | 申请日： | 2010-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN102116834A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 乔静;曾志敏;桑浚之 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 王函 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于NVM测试中不同品种参数之间坐标的对应方法，包括如下步骤：(1)在某一品种参数下测试NVM，在一固定的存储区域写入当前die的坐标(X，Y)；(2)在新的品种参数下测试已写入坐标的区域，先读出已写入的die的坐标(X，Y)，再记录新的品种参数下的坐标(X’，Y’)；(3)建立两个品种参数之间坐标的对应关系，得到以下两个公式：X’＝aX+bY+M；Y’＝cX+dY+N；其中a，b，c，d，M，N是公式中的未知数，通过不同的die计算出未知数并将其代入上述公式中，即得两个品种参数下的坐标对应关系。该方法可确保在不同品种参数下坐标的一致，实现不同测试环境下测试结果的准确和高效。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 nvm 测试 不同 品种 参数 之间 标的 对应 方法 | ||
【主权项】：
一种用于NVM测试中不同品种参数之间坐标的对应方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)在某一品种参数下测试NVM，在某一固定的存储区域写入当前die的坐标(X，Y)；(2)在新的品种参数下测试步骤(1)中已写入坐标的区域时，先读出步骤(1)中已写入的die的坐标(X，Y)，然后再记录下新的品种参数下的坐标(X’，Y’)；(3)建立两个品种参数之间坐标的对应关系，得到以下的两个公式：X’＝aX+bY+M；Y’＝cX+dY+N；其中a，b，c，d，M，N是公式中的未知数，通过不同的die来计算出未知数a，b，c，d，M，N，并将其值代入到上述公式中，即得到两个品种参数下的坐标对应关系。
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