[发明专利]一种荧光材料激发测量装置无效
| 申请号： | 201010039747.X | 申请日： | 2010-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN101799325A | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 潘建根 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/58 | 分类号： | G01J1/58;G01J3/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种荧光材料激发测量装置。包括暗箱，暗箱在与样品垂线夹45度角的方向上设置一个环形光源或多个光源作为激发光源，工作试样盘和发射光接收装置；激发光源、样品和发射光接收装置构成CIE 45/0照明观测条件；利用光源与工作试样盘之间的可调光阑、滤色片和监视探测器，能够方便准确地调节激发光照度或辐照度水平，甚至可调节激发光光谱成份。本发明的荧光材料激发装置成本低，体积小，能够方便准确地调节激发光照度和光谱，易实现精度较高的荧光材料发光特性的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 材料 激发 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种荧光材料激发测量装置，其特征在于包括暗箱(1)，在暗箱(1)内设置激发光源(2)、放置被测荧光材料的工作试样盘(4)、发射光接收装置(6)和可调光阑(10)；所述的激发光源(2)位于以所述的工作试样盘(4)的中心为顶点、与工作试样盘(4)的中心轴线(3)成一定夹角度的空间方向所形成的锥面(11)上，且激发光源(2)为一个环形光源或多个光源组成；所述的发射光接收装置(6)位于工作试样盘(4)的中心轴线(3)上，且面对被测荧光材料；在激发光源(2)与工作试样盘(4)之间的光路上设置用于调节入射到工作试样盘(4)表面的激发光的辐射照度和/或辐射光谱的可调光阑(10)。
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