[发明专利]一种热控涂层太阳吸收率的测量方法无效
| 申请号： | 201010107460.6 | 申请日： | 2010-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN101788511A | 公开（公告）日： | 2010-07-28 |
| 发明（设计）人： | 赵慧洁;张颖;邢辉;张庆祥;王立;唐吾 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人： | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址： | 100191 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种热控涂层太阳吸收率的测量方法，其特征是利用测热法来获取热控涂层的光学性能。首先将热控涂层均匀敷在可实时测量温度的薄金属试件板上，利用热控涂层太阳吸收率乘以辐照能量计算出热控涂层吸收的辐照通量；再通过实时测试热控涂层的温度，根据斯蒂芬-波尔兹曼定律计算得到热控涂层向空间辐射的热量；分析计算热控涂层通过试件板在空间环境中的各项热损失，根据能量守恒的原理即可计算得到热控涂层的太阳吸收率。该方法利用测试热控涂层的温度来计算其吸收率，因此选择探测精度为0.1度的探测器，计算的热控涂层吸收率精度可到0.001。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 涂层 太阳 吸收率 测量方法 | ||
【主权项】：
一种热控涂层太阳吸收率的测量方法，其特征在于包括如下几个步骤：(1)将热控涂层均匀敷在可实时测量温度的薄金属试件板上；(2)分析热控涂层所接受空间辐照的组成部分，热控涂层在所处的空间环境中吸收的辐照通量由其太阳吸收率乘以试件板面积再乘以辐照能量得到，其计算式为：αs·A·E，其中，αs为太阳吸收率，A为试件板面积，E为辐照能量；(3)实时采集热控涂层下面试件板的温度Tcoating和热沉端的温度Tsink(4)根据斯蒂芬-波尔兹曼定律计算得到热控涂层向空间辐射的热量，其计算式为：ε·A·σ·Tcoating4，其中，ε为热控涂层的发射率，σ为斯蒂芬-波尔兹曼常数，热控涂层的发射率受空间环境影响很小，其发射率值可认为是常数；(5)根据探测器探测的温度，计算试件板的内能增加Qinner-energy和试件板在空间的换热损失Qheat-exchange；(6)根据能量守恒的原理：αs·A·E＝ε·A·σ·Tcoating4+Qinner-energy+Qheat-exchange计算得到热控涂层的太阳吸收率。
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