[发明专利]光谱仪杂散光校正方法有效

专利信息
申请号: 201010107630.0 申请日: 2010-02-02
公开(公告)号: CN101813519A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 潘建根;陈双;李倩 申请(专利权)人: 杭州远方光电信息有限公司
主分类号: G01J3/02 分类号: G01J3/02;G01J3/28
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 林宝堂
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种光谱仪杂散光的校正方法和装置,在光谱仪的光信号入射狭缝和色散元件之间的光路上设置可切入的若干个滤色片,在切入各滤色片和不切入滤光片时分别测量同一待测光源,由测得的光谱计算杂散光分布因子,并使用杂散光分布因子校正测量该待测光源或其他光源的杂散光误差,滤色片也可与激光相结合进一步对杂散光进行校正;或者滤光片与激光相结合校正光谱仪测量波段外的光辐射所产生的杂散光,并用激光校正光谱仪测量波段内的杂散光;相应的光谱仪的测控软件中包括杂散光校正程序,能够方便快速地实现上述杂散光的校正。本发明能够实现对光谱仪测量波段内和波段外的光辐射所带来的杂散光进行校正,操作方便,易于实现高精度光谱测量。
搜索关键词: 光谱仪 散光 校正 方法
【主权项】:
一种光谱仪杂散光校正方法,其特征在于在光谱仪的光信号采集装置和色散元件(4)之间设置可切入光路的一个或一个以上滤色片(6),且包括以下步骤:a)在不切入所述滤色片(6)时测量待测光源的光谱功率;b)将滤色片(6)切入到入射狭缝和色散元件之间的光路上,测量同一待测光源的光谱功率;c)根据步骤a)和步骤b)的测量结果计算得到杂散光分布因子或杂散光校正因子;d)用杂散光分布因子或杂散光校正因子修正不切入上述滤色片(6)时测得的该待测光源或其它光源的光谱功率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州远方光电信息有限公司,未经杭州远方光电信息有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010107630.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top