[发明专利]在位式光电测量方法及装置无效
申请号: | 201010109313.2 | 申请日: | 2010-02-08 |
公开(公告)号: | CN101769865A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 马海波;曹志峰;赵骏;陈英斌;王健 | 申请(专利权)人: | 聚光科技(杭州)股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310052浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及在位式光电分析方法,特点是:光发射单元通过机械结构连接光接收单元,光发射单元通过所述机械结构安装在管道上的第一位置,光接收单元通过所述机械结构安装在管道上的第二位置,光发射单元和/或光接收单元与所述管道间是非固定连接;所述光发射单元和光接收单元间形成测量光路,该测量光路处于所述机械结构、管道内;分析管道内被测流体对测量光的影响,得到被测流体的参数;所述管道发生形变时,管道上的第一位置和第二位置发生相对移动,所述光发射单元和/或光接收单元与管道间有相对移动,光发射单元发出的测量光依然能够被光接收单元接收。在管道发生形变的情况下,本发明能够保证测量正常进行,并保持原有的测量精度。 | ||
搜索关键词: | 在位 光电 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
在位式光电测量方法,其特征在于:光发射单元通过机械结构连接光接收单元,光发射单元通过所述机械结构安装在管道上的第一位置,光接收单元通过所述机械结构安装在管道上的第二位置,光发射单元和/或光接收单元与所述管道间是非固定连接;所述光发射单元和光接收单元间形成测量光路,该测量光路处于所述机械结构、管道内;分析管道内被测流体对测量光的影响,得到被测流体的参数;所述管道发生形变时,管道上的第一位置和第二位置发生相对移动,所述光发射单元和/或光接收单元与管道间有相对移动,光发射单元发出的测量光依然能够被光接收单元接收。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于聚光科技(杭州)股份有限公司,未经聚光科技(杭州)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010109313.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。