[发明专利]在位式光电测量方法及装置无效

专利信息
申请号: 201010109313.2 申请日: 2010-02-08
公开(公告)号: CN101769865A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 马海波;曹志峰;赵骏;陈英斌;王健 申请(专利权)人: 聚光科技(杭州)股份有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310052浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及在位式光电分析方法,特点是:光发射单元通过机械结构连接光接收单元,光发射单元通过所述机械结构安装在管道上的第一位置,光接收单元通过所述机械结构安装在管道上的第二位置,光发射单元和/或光接收单元与所述管道间是非固定连接;所述光发射单元和光接收单元间形成测量光路,该测量光路处于所述机械结构、管道内;分析管道内被测流体对测量光的影响,得到被测流体的参数;所述管道发生形变时,管道上的第一位置和第二位置发生相对移动,所述光发射单元和/或光接收单元与管道间有相对移动,光发射单元发出的测量光依然能够被光接收单元接收。在管道发生形变的情况下,本发明能够保证测量正常进行,并保持原有的测量精度。
搜索关键词: 在位 光电 测量方法 装置
【主权项】:
在位式光电测量方法,其特征在于:光发射单元通过机械结构连接光接收单元,光发射单元通过所述机械结构安装在管道上的第一位置,光接收单元通过所述机械结构安装在管道上的第二位置,光发射单元和/或光接收单元与所述管道间是非固定连接;所述光发射单元和光接收单元间形成测量光路,该测量光路处于所述机械结构、管道内;分析管道内被测流体对测量光的影响,得到被测流体的参数;所述管道发生形变时,管道上的第一位置和第二位置发生相对移动,所述光发射单元和/或光接收单元与管道间有相对移动,光发射单元发出的测量光依然能够被光接收单元接收。
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