[发明专利]一种测试装置和测试方法

摘要

本发明涉及硬件测试技术，针对现有技术无法对二级缓存进行有效测试的缺陷，提供一种测试装置和测试方法。测试装置包括比较模块；控制模块，与比较模块通信连接，并通过总线与二级缓存通信连接，用于向比较模块发出数据，并通过总线向二级缓存发出地址和数据，以控制二级缓存依据地址将数据写入内存；监听模块用于对总线进行监听，以获取写入地址，然后在预设等待时间过后，依据该写入地址在内存中读取对应的存储数据，再将读取的存储数据发往比较模块；比较模块用于对收到的写入数据和存储数据进行比较，得到数据比较结果，据此对二级缓存进行测试。本发明还提供了一种测试装置和测试方法。本发明提供的技术方案可实现对二级缓存的精确测试。

主权项

一种测试装置，用于对处理器的二级缓存进行测试，该二级缓存与内存通信连接，其特征在于，所述测试装置包括：比较模块；控制模块，与比较模块通信连接，并通过总线与所述二级缓存通信连接，用于向所述比较模块发出写入数据，并通过所述总线向所述二级缓存发出写入地址和所述写入数据，以控制所述二级缓存依据所述写入地址将所述写入数据写入内存；监听模块，分别与比较模块和所述内存通信连接，并通信连接至所述总线，用于对所述总线进行监听，以获取所述写入地址，然后在预设等待时间过后，依据该写入地址在内存中读取对应的存储数据，再将读取的存储数据发往比较模块；所述比较模块用于对收到的写入数据和存储数据进行比较，得到数据比较结果，据此对二级缓存进行测试。