[发明专利]铁损测试仪的测试状态识别装置及其识别方法无效

专利信息
申请号: 201010116184.X 申请日: 2010-03-02
公开(公告)号: CN101806844A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 顾伟驷;苏英俩;余佩琼;杭亮 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R21/08
代理公司: 杭州君易知识产权代理事务所 33223 代理人: 陈向群
地址: 310014 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种硅钢片铁心损耗测量技术领域,特别是涉及一种铁损测试仪识别测试探头是否脱离硅钢片试样的识别装置及其识别方法,它包括微控制器、模数转换器、数模转换器、测试探头、功率放大电路和采样电阻,其特征在于所述微控制器分别与模数转换器、数模转换器相连接,所述测试探头包括初级线圈,所述初级线圈串接在功率放大器与采样电阻之间,所述数模转换器串接在微控制器与功率放大器之间,所述模数转换器串接在微控制器与采样电阻之间,所述采样电阻的另一端接地,微控制器8的工作程序采用C语言编制,在微控制器工作程序的控制下,能够自动识别测试探头是否脱离硅钢片试样,从而提高了测试探头的使用周期和测试质量。
搜索关键词: 测试仪 测试 状态 识别 装置 及其 方法
【主权项】:
铁损测试仪的测试状态识别装置,包括微控制器、模数转换器、数模转换器、测试探头、功率放大电路和采样电阻,其特征在于所述微控制器分别与模数转换器、数模转换器相连接,所述测试探头包括初级线圈,所述初级线圈串接在功率放大器与采样电阻之间,所述数模转换器串接在微控制器与功率放大器之间,所述模数转换器串接在微控制器与采样电阻之间,所述采样电阻的另一端接地。
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