[发明专利]阻抗元件自动分选检测评估系统无效
| 申请号： | 201010120310.9 | 申请日： | 2010-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN102193035A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 滕华强;韩之文;黄永庆;陈德宏 | 申请（专利权）人： | 上海仪器仪表研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/12;G01R27/02;G01R1/02;B07C5/344 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 高泉生 |
| 地址： | 200082 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阻抗元件自动分选检测评估系统，该系统包括阻抗元器件自动分选检测部分，还设有一采集并结合LCR测量仪上被测阻抗元件参数以及控制单元上输出的数据通过数据模型处理后得出质量评估报告的处理单元；所述处理单元内设有用来采集被测阻抗元件数据的数据采集模块；可以将已经保存的数据读入的历史数据读入模块；可以显示被测阻抗元件数据和处理数据结果的显示模块；用来保存被测阻抗元件数据的存储模块；负责将被测阻抗元件参数经过数据模型处理的数据评估模块，以及负责将数据评估模块处理的数据以图形方式输出的评估报告模块。解决了对阻抗元器件的检测参数进行分析和处理，形成可使用户能直接评估阻抗元器件质量的评估报告。 | ||
| 搜索关键词： | 阻抗 元件 自动 分选 检测 评估 系统 | ||
【主权项】：
一种阻抗元件自动分选检测评估系统，包括：一用来精确定位被测阻抗元件的LCR分选设备，用来测量阻抗元件参数的LCR测量仪；用来控制LCR分选设备正确定位，从而协助测试单元和LCR测量仪测量被测阻抗元件参数的控制单元，其特征在于，所述系统还设有一采集并结合LCR测量仪上被测阻抗元件参数以及控制单元上输出的数据并通过数据模型处理后得出质量评估报告的处理单元；所述处理单元内设有用来采集被测阻抗元件数据的数据采集模块；可以将已经保存的数据读入的历史数据读入模块；可以显示被测阻抗元件数据和处理数据结果的显示模块；用来保存被测阻抗元件数据的存储模块；负责将被测阻抗元件参数经过数据模型处理的数据评估模块，以及负责将数据评估模块处理的数据以图形方式输出的评估报告模块。
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