[发明专利]一种内嵌NMOS辅助触发可控硅结构无效
申请号: | 201010121080.8 | 申请日: | 2010-03-10 |
公开(公告)号: | CN101814498A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 马飞;韩雁;董树荣;黄大海;宋波;李明亮;苗萌 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L27/07 | 分类号: | H01L27/07;H01L23/60 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种内嵌NMOS辅助触发可控硅器件,包括P型衬底,P型衬底上设置N阱和P阱,N阱和P阱的交界处上方横跨有NMOS的栅氧以及位于栅氧上方的多晶硅栅,P阱上依次设有第一P+注入区、第一浅壕沟隔离和第一N+注入区;N阱上依次设有第二N+注入区、第二P+注入区、第二浅壕沟隔离和第三N+注入区;所述的第二P+注入区和第三N+注入区均接入电学阳极,第一P+注入区和第一N+注入区均接入电学阴极;所述的多晶硅栅通过触发电路接入电学阳极和电学阴极。本发明内嵌NMOS辅助触发可控硅器件触发电压低,能够在相应范围内调整且结构简单。 | ||
搜索关键词: | 一种 nmos 辅助 触发 可控硅 结构 | ||
【主权项】:
一种内嵌NMOS辅助触发可控硅器件,包括P型衬底(31),P型衬底(31)上设置N阱(32)和P阱(33),其特征在于:所述的N阱(32)和P阱(33)的交界处上方横跨有NMOS的栅氧(39)以及位于栅氧(39)上方的多晶硅栅(38);所述的P阱(33)上依次设有第一P+注入区(34)、第一浅壕沟隔离(40)和第一N+注入区(35a),其中第一N+注入区(35a)临近N阱(32)和P阱(33)的交界处;所述的N阱(32)上依次设有第二N+注入区(35b)、第二P+注入区(36)、第二浅壕沟隔离(41)和第三N+注入区(37),其中第二N+注入区(35b)临近N阱(32)和P阱(33)的交界处;所述的第二P+注入区(36)和第三N+注入区(37)均接入电学阳极,第一P+注入区(34)和第一N+注入区(35a)均接入电学阴极;所述的多晶硅栅(38)通过触发电路接入电学阳极和电学阴极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的