[发明专利]一种计算密实性颗粒介质光散射特性的方法无效
| 申请号： | 201010126398.5 | 申请日： | 2010-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN101782516A | 公开（公告）日： | 2010-07-21 |
| 发明（设计）人： | 田岩;陈明;吴迎春 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/49 | 分类号： | G01N21/49;G01B11/30 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种计算密实性颗粒介质光散射特性的方法，将密实性介质的光散射特性——二向反射分布函数(BRDF)分为两部分来计算，即面散射BRDF和体散射BRDF。通过波解析理论计算得到散射介质面散射、通过辐射传输理论计算得到体散射的二向反射分布特性BRDF，两部分计算之和为密实性颗粒介质光散射特性。本发明首次将辐射传输理论与波解析理论相结合，相对于以前的密实性介质光散射模型而言，充分考虑了介质表面形状对光散射特性的作用，增加了刻画散射介质表面粗糙程度的参数，提高了计算精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计算 密实 颗粒 介质 散射 特性 方法 | ||
【主权项】：
1.一种计算密实性颗粒介质光散射特性的方法，介质光散射特性![]()
其中，θi为入射光天顶角，![]()
为入射光方位角，θs为观测天顶角，![]()
为观测方位角，λ为入射光波长；![]()
为介质面散射的二向反射分布特性，![]()
为介质体散射的二向反射分布特性。
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