[发明专利]反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置无效
| 申请号： | 201010128709.1 | 申请日： | 2010-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN101825785A | 公开（公告）日： | 2010-09-08 |
| 发明（设计）人： | 杉田一纮 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置。从光源(21)的光中取出直线偏振分量的光，以使该光的光轴(B)成为与反射型液晶盒(23)的法线倾斜的角度(θ)的方式，对反射型液晶盒(23)照射该偏振分量的光，根据被反射型液晶盒(23)的反射层(23a)反射的光的与偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度，求出光强度反射率(Rc)，使用该光强度反射率(Rc)、液晶的正常光折射率(no)及异常光折射率(ne)、角度(θ)、液晶的厚度(d)、以及反射层(23a)的折射率(nr)，求出液晶的倾角(β)。能够对反射型液晶盒的倾角进行测定。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 液晶 倾角 测定 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
一种反射型液晶盒的倾角测定方法，对反射型液晶盒的倾角进行测定，其特征在于，从光源取出直线偏振分量的光，以使该光的光轴形成与上述反射型液晶盒的法线倾斜的入射角的方式，对反射型液晶盒照射该偏振分量的光，对被上述反射型液晶盒的反射层反射的光的与上述偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度进行测定，而求出光强度反射率，使用该光强度反射率、上述液晶的正常光折射率及异常光折射率、上述入射角、上述液晶的厚度、以及上述反射层的折射率，求出上述液晶的倾角。
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