[发明专利]一种粒径测量的有限分布积分反演算法有效

专利信息
申请号: 201010129738.X 申请日: 2010-03-19
公开(公告)号: CN101793665A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 曹章;徐立军;丁洁 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G06F19/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种粒径测量的有限分布积分反演算法,其特征在于:包括下列步骤:(1)通过测量得到颗粒尺寸参数分布为fab(x)的颗粒群的衍射光在有限颗粒粒度区间[a,b]上的光强分布I(θ);(2)通过Hankel变换和Scholmilch方程的解析解,得到反演表达式;(3)将步骤(2)中得到的方程利用高斯插值方法进行离散化处理;(4)将高斯插值系数和插值节点带入步骤(3)中离散化处理后的式子中,从而获得粒径分布fab(x)。由于采用了粒径分布范围有限的积分反演算法,本发明适用于实际测量中粒径分布在有限区间的情况。在权利要求书的(2)式中不用差分而直接采用样条函数导数的形式,减小了原理性误差。所述算法中只含有一个贝赛尔函数,则反演结果震荡显著减少。
搜索关键词: 一种 粒径 测量 有限 分布 积分 反演 算法
【主权项】:
1.一种粒径测量的有限分布积分反演算法,其特征在于:包括下列步骤:步骤一:首先通过测量得到颗粒尺寸参数分布为fab(x)的颗粒群在有限颗粒粒度区间[a,b]上衍射光强分布I(θ);步骤二:通过Hankel变换和Scholmilch方程的解析解,得到反演表达式其中,颗粒参数x=πD/λ,D为粒径,粒径分布范围为[a,b],且a<b,θ为衍射角,λ为波长,F为透镜焦距,I0为入射光强。步骤三:利用高斯插值方法将方程(1)进行离散化处理得到fab(x)=12b2π3F2λ2I0xΣkNλk2J2(λkx)J32(λkb)Σm=1Mlm[3(sin(π4+π4tm))3I(λksin(π4+π4tm)2)+λk(sin(π4+π4tm))42I(λksin(π4+π4tm)2)]---(2)]]>其中,lm和tm分别为插值系数和插值节点,N表示衍射角分区的总数,M表示插值节点总数;步骤四:将高斯插值系数和插值节点带入离散化处理后的式子(2)中,从而获得粒径分布fab(x)。
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