[发明专利]一种p-n异质结光探测器无效
申请号: | 201010131670.9 | 申请日: | 2010-03-25 |
公开(公告)号: | CN101826570A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 王淑芳;陈明敬;傅广生;陈景春;何立平;于威;李晓苇 | 申请(专利权)人: | 河北大学 |
主分类号: | H01L31/109 | 分类号: | H01L31/109;H01L31/036 |
代理公司: | 石家庄汇科专利商标事务所 13115 | 代理人: | 王琪 |
地址: | 071002 *** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种p-n异质结光探测器,属于薄膜光探测器技术领域,所要解决的技术问题是提供一种在掺铌钛酸锶单晶基底上外延生长一层错配层钴氧化合物薄膜的p-n异质结光探测器,其技术方案是:它由掺铌钛酸锶单晶基底和错配层钴氧化合物薄膜组成,错配层钴氧化合物薄膜采用脉冲激光沉积技术或金属有机沉积技术外延生长在掺铌钛酸锶单晶基底上,在掺铌钛酸锶单晶基底和错配层钴氧化合物薄膜上各有一个采用热蒸发、磁控溅射或脉冲激光沉积技术沉积在基底和薄膜表面的电极,两个电极分别通过电极引线与电压信号输出端相连接。本发明的优点在于:制备简单、成本低廉、不需要制冷、不需要任何辅助的电源和电子设备、响应波段宽。 | ||
搜索关键词: | 一种 异质结光 探测器 | ||
【主权项】:
一种p-n异质结光探测器,其特征在于:它由掺铌钛酸锶单晶基底(1)和错配层钴氧化合物薄膜(2)组成,错配层钴氧化合物薄膜(2)采用脉冲激光沉积技术或金属有机沉积技术外延生长在掺铌钛酸锶单晶基底(1)上,在掺铌钛酸锶单晶基底(1)和错配层钴氧化合物薄膜(2)上各有一个采用热蒸发、磁控溅射或脉冲激光沉积技术沉积在基底和薄膜表面的电极,两个电极分别通过电极引线与电压信号输出端相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河北大学,未经河北大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010131670.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种预付费账户自动充值的装置及方法
- 下一篇:切换方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的