[发明专利]半导体结构无效

专利信息
申请号: 201010134800.4 申请日: 2010-03-01
公开(公告)号: CN102194803A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 沈更新 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L23/485;H01L23/34;H01L21/50;H01L21/60
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 任永武
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种半导体结构,包含:具有一封装阵列的一基板,封装阵列具有多个接垫及一保护层,接垫暴露于保护层之外并以阵列方式排列;一非导电层覆盖基板及封装阵列,具有多个通孔,以暴露出这些接垫;多个芯片,借助非导电层黏结至基板的封装阵列上,各芯片包含一有源面、多个焊垫及多个复合凸块,焊垫形成于有源面上,复合凸块形成于焊垫上,且各复合凸块对应各通孔电性连接至各接垫;一封胶材覆盖基板上的这些芯片;以及一金属板位于这些芯片的封胶材上。本发明以复合凸块取代现有的金凸块,可减少金的使用,以降低制造成本,且用以封装此半导体结构的封胶材上具有一金属板,可藉此提升半导体结构的传热效率,从而增加芯片运行的稳定度。
搜索关键词: 半导体 结构
【主权项】:
一种半导体结构,其特征在于,包含:具有一封装阵列的一基板,其中所述封装阵列具有多个接垫及一保护层,这些接垫是暴露于所述保护层之外并以阵列方式排列;一非导电层覆盖所述基板及所述封装阵列,具有多个通孔,以暴露出这些接垫;多个芯片,借助所述非导电层黏结至所述基板的所述封装阵列上,其中各所述芯片包含一有源面、多个焊垫及多个复合凸块,这些焊垫形成于所述有源面上,这些复合凸块形成于这些焊垫上,且各所述复合凸块对应各所述通孔电性连接至各所述接垫;一封胶材覆盖所述基板上的这些芯片;以及一金属板位于这些芯片的所述封胶材上。
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