[发明专利]用GTEM小室测试天线增益的方法无效
| 申请号： | 201010137145.8 | 申请日： | 2010-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN101819236A | 公开（公告）日： | 2010-09-01 |
| 发明（设计）人： | 李书芳 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用GTEM小室测试天线增益的方法，首先将待测天线摆放在GTEM小室中的特制非金属转台上，在GTEM小室的端口处加一射频信号发生器，并通过电缆将天线输出端与一频谱仪相连接，测出天线的接收功率，通过对转台的旋转以及频谱仪数据的实时监测，可以得到天线接收功率的最大值，然后通过本方法提出的公式计算出天线的增益，本方法操作简单、成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | gtem 小室 测试 天线 增益 方法 | ||
【主权项】：
一种用GTEM小室测试天线增益的方法，其特征在于，包括步骤：A、将待测天线摆放在GTEM小室中的特制非金属转台上，连接GTEM小室端口到射频信号发生器，并通过电缆将待测天线输出端口与频谱仪连接；B、接通端口的射频信号发生器，将转台沿Y轴旋转一周，通过频谱仪测量天线在此过程中的接收功率值，找出接收最大时的位置，在此最大位置上再沿X轴旋转一周，通过频谱仪测量天线在此过程中的接收功率，功率最大时的位置即为此天线的最大接收方向；C、根据所测得的待测天线在一定输入功率下的最大接收功率值，即可将此值代入本方法所提出的公式中计算天线的增益。
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