[发明专利]一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法有效
| 申请号： | 201010137833.4 | 申请日： | 2010-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101846553A | 公开（公告）日： | 2010-09-29 |
| 发明（设计）人： | 白云峰;董娟;李艳秋 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 张利萍 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法，属于光电检测技术。包括偏振片、挡光板和CCD探测器；其中挡光板上有两条狭缝，除了挡光板上的两条狭缝外，挡光板上的其余部分完全不透光；沿光路方向依次为偏振片、挡光板和CCD探测器。将偏振片覆盖在挡光板的一条狭缝上，然后沿光路方向依次固定挡光板和CCD探测器；平行入射光照射在挡光板上，平行入射光透过挡光板上的两条狭缝在CCD探测器成像，形成干涉条纹。本发明只用到一块偏振片，且不需要旋转此偏振片，装置简单，具有高的实验精度；整个实验装置中无波长选择装置，即可测量任何波长入射光的偏振态。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 干涉 测量 偏振 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置，其特征在于包括偏振片(1)、挡光板(2)和CCD探测器(3)；其中挡光板(2)上有两条狭缝，除了挡光板(2)上的两条狭缝外，挡光板(2)上的其余部分完全不透光；沿光路方向依次为偏振片(1)、挡光板(2)和CCD探测器(3)。
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