[发明专利]一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201010137833.4 申请日: 2010-03-30
公开(公告)号: CN101846553A 公开(公告)日: 2010-09-29
发明(设计)人: 白云峰;董娟;李艳秋 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 张利萍
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法,属于光电检测技术。包括偏振片、挡光板和CCD探测器;其中挡光板上有两条狭缝,除了挡光板上的两条狭缝外,挡光板上的其余部分完全不透光;沿光路方向依次为偏振片、挡光板和CCD探测器。将偏振片覆盖在挡光板的一条狭缝上,然后沿光路方向依次固定挡光板和CCD探测器;平行入射光照射在挡光板上,平行入射光透过挡光板上的两条狭缝在CCD探测器成像,形成干涉条纹。本发明只用到一块偏振片,且不需要旋转此偏振片,装置简单,具有高的实验精度;整个实验装置中无波长选择装置,即可测量任何波长入射光的偏振态。
搜索关键词: 一种 利用 干涉 测量 偏振 装置 方法
【主权项】:
一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置,其特征在于包括偏振片(1)、挡光板(2)和CCD探测器(3);其中挡光板(2)上有两条狭缝,除了挡光板(2)上的两条狭缝外,挡光板(2)上的其余部分完全不透光;沿光路方向依次为偏振片(1)、挡光板(2)和CCD探测器(3)。
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