[发明专利]一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法有效
申请号: | 201010137833.4 | 申请日: | 2010-03-30 |
公开(公告)号: | CN101846553A | 公开(公告)日: | 2010-09-29 |
发明(设计)人: | 白云峰;董娟;李艳秋 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01J4/00 | 分类号: | G01J4/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 张利萍 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法,属于光电检测技术。包括偏振片、挡光板和CCD探测器;其中挡光板上有两条狭缝,除了挡光板上的两条狭缝外,挡光板上的其余部分完全不透光;沿光路方向依次为偏振片、挡光板和CCD探测器。将偏振片覆盖在挡光板的一条狭缝上,然后沿光路方向依次固定挡光板和CCD探测器;平行入射光照射在挡光板上,平行入射光透过挡光板上的两条狭缝在CCD探测器成像,形成干涉条纹。本发明只用到一块偏振片,且不需要旋转此偏振片,装置简单,具有高的实验精度;整个实验装置中无波长选择装置,即可测量任何波长入射光的偏振态。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 干涉 测量 偏振 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置,其特征在于包括偏振片(1)、挡光板(2)和CCD探测器(3);其中挡光板(2)上有两条狭缝,除了挡光板(2)上的两条狭缝外,挡光板(2)上的其余部分完全不透光;沿光路方向依次为偏振片(1)、挡光板(2)和CCD探测器(3)。
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