[发明专利]对装配过程进行光学检查的装置在审
| 申请号： | 201010138638.3 | 申请日： | 2010-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN101842001A | 公开（公告）日： | 2010-09-22 |
| 发明（设计）人： | 弗兰克·延斯·舒曼;斯文·霍尔格·斯特雷夫 | 申请（专利权）人： | 西门子电子集成系统有限责任两合公司 |
| 主分类号： | H05K13/04 | 分类号： | H05K13/04;H05K13/08;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴贵明;李慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对在传统装配装置中的、尤其在给基板装配电子元件的自动装配机中的装配过程进行光学检查的装置。在该装置中，模块化结构的、用于光学检查的门架和移动式数据处理单元集成在装配装置中。为了集成设有用于光学检查的门架来替代至少一个装配门架或者作为附加门架，用于光学检查的门架包括至少一个模块化的门架、一个用于与装配装置连接的卷绕电缆和一个所谓的AOI装置。移动式数据处理单元安装在装配装置的用于供给装置的位置空间上。本发明的装置具有以下优点：可灵活地在装配期间进行光学检查。由于装置为模块化结构，其可简单并且费用少地与例如新产品等相匹配。通过集成在传统的装配装置中还节省了位置空间和费用。 | ||
| 搜索关键词： | 装配 过程 进行 光学 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种装置，用于对在传统装配装置(BA)中的、尤其是在用于给基板(LP1，LP2)装配电子元件的自动装配机中的装配过程进行光学检查，其特征在于，用于光学检查(AOI)的门架和移动式数据处理单元(DV)这样地集成在所述装配装置(BA)中，从而用于所述光学检查(AOI)的所述门架设计替代了至少一个装配门架(P，KS1，BK)或者作为附加的门架；而且在所述装配装置(BA)的设计用于供给装置(ZF)的位置空间上安装了所述移动式数据处理单元(DV)，所述移动式数据处理单元设计用来控制用于光学检查(AOI)的所述门架，并对用于所述光学检查(AOI)的所述门架的数据进行分析评估。
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