[发明专利]芯片测试仪及其测试方法

摘要

本发明提供一种芯片测试仪及其测试方法，该测试仪包括壳体，壳体上设有检测针及检测结果显示装置，壳体内设有电路板，电路板上设有第一检测单元，其具有微控制器及存储器，存储器存储有预设数据，其中，电路板上还设有第二检测单元，其包括频率比较器，其一个输入端与检测针连接。该方法包括微控制器通过检测针输出第一检测信号及第二检测信号，待接收到第一反馈信号及第二反馈信号后，判断第一反馈信号所表示的数据是否与预设数据一致，同时将第二反馈信号输入至频率比较器，频率比较器判断所输入的频率是否在频率发生器所输出频率的一定误差范围内，并输出检测结果。本发明能检测墨盒的压电传感器是否正常工作，确保墨盒能正常使用。

主权项

芯片测试仪，包括壳体，所述壳体的一个侧壁上设有自侧壁向外延伸的检测针，所述壳体上还设有检测结果显示装置；所述壳体内设有一电路板，所述电路板上设有第一检测单元，所述第一检测单元具有向所述检测针输出检测信号的微控制器以及与所述微控制器连接的存储器，所述存储器存储有预设数据；其特征在于：所述电路板上还设有第二检测单元，所述第二检测单元包括一频率比较器，所述频率比较器的一个输入端与所述检测针连接，另一输入端连接有频率发生器。