[发明专利]一种超导本征结的制备方法有效

专利信息
申请号: 201010143759.7 申请日: 2010-04-09
公开(公告)号: CN101820046A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 尤立星;王兴 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L39/24 分类号: H01L39/24
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 潘振甦
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种本征结的制备方法,包括:(1)高温超导单晶生长;(2)剥离并固定超薄单晶于基片上;(3)超薄单晶选择及厚度确定;(4)本征结制备;其中,步骤(2)中,通过多次剥离BSCCO单晶薄片,将肉眼看不到的单晶碎片吸附于基片表面。步骤(3)根据需要选择合适大小和厚度的单晶用于本征结制备。本发明的优点是:(1)采用了超薄的单晶,厚度远小于材料的穿透深度,从而可以有效的吸收被探测信号。同时薄超导单晶有助于本征结和基片之间的热扩散;(2)制备过程没有采用胶固定工艺,有助于超导材料和基片之间的热扩散;(3)单晶表面和基片之间的高度差仅为单晶本身厚度,从几十到几百纳米,和薄膜厚度相当。
搜索关键词: 一种 超导 制备 方法
【主权项】:
一种本征结制备方法,其特征在于包括以下步骤:(1)高温超导单晶生长;(2)剥离并重复多次使超薄单晶碎片粘附于基片表面;(3)超薄单晶保护和选择;(4)本征结的制备;其中,①步骤2剥离采用胶带或PE保护蓝膜,超薄单晶碎片大小从几个微米到几十微米,厚度从几个纳米到几百纳米;②步骤3超薄单晶的保护是在其上蒸发一层金层,选择用于本征结制备的单晶边长为几十微米大小的碎片,厚度为几十纳米到200纳米;③步骤4本征结的制备:a)首先利用普通光刻构造台面;然后用Ar离子束刻蚀方法制备一个一定高度的台面;b)再次利用光刻和离子束刻蚀方法构造电极,包括顶电极和底电极。
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