[发明专利]一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置及方法有效
| 申请号： | 201010144119.8 | 申请日： | 2010-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN101793556A | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 白云峰;李艳秋;董娟;刘晓琳 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447;G01J3/12;G01N21/21 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 张利萍 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置及方法，属于光电技术检测技术领域。包括偏振片A、偏振片B、二元光栅、凸透镜和CCD探测器；将偏振片A覆盖二元光栅的一部分，然后沿光路方向依次固定偏振片A、二元光栅、凸透镜、偏振片B和CCD探测器；平行入射光照射在二元光栅上，平行入射光透过二元光栅在CCD探测器成像，形成衍射条纹。本发明易于实际应用，装置简单，能够高精度，对入射单色光无选择性的偏振态测量方法；本发明相对斯托克斯参量法只用到偏振片，且不需要旋转此偏振片，因此在实验上装置简单，且具有高的实验精度；整个实验装置中无波长选择装置，即任何单色光入射均可测量其偏振态；此装置不需校正即可使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 衍射 测量 偏振 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置，其特征在于：包括偏振片(1)、二元光栅(3)、凸透镜(4)和CCD探测器(5)；其中二元光栅(3)的缝宽度都相等，且不限制光栅狭缝个数；光栅距透镜距离可根据实际情况而定；沿光路方向依次为偏振片(1)、二元光栅(3)、凸透镜(4)和CCD探测器(5)。
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