[发明专利]用来检测发光二极管晶粒外观的检测装置及检测方法无效
| 申请号： | 201010144516.5 | 申请日： | 2010-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN102213680A | 公开（公告）日： | 2011-10-12 |
| 发明（设计）人： | 汪秉龙;陈桂标 | 申请（专利权）人： | 久元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京市中联创和知识产权代理有限公司 11364 | 代理人： | 王玉双 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用来检测发光二极管晶粒外观的检测装置，其包括：一检测平台、一分光镜、一第一光源及一影像感测组件。检测平台具有一可移动的中空平台，一具有多个发光二极管晶粒的大晶片放置于中空平台上。分光镜设置于检测平台的上方。第一光源设置于分光镜的一侧，第一光源所产生的第一光束投向分光镜，以产生一投向这些发光二极管晶粒的上表面的第二光束，并且第二光束通过这些发光二极管晶粒的上表面而被反射成一向上投射的第三光束。影像感测组件设置于分光镜的上方，以接收经过分光镜的第三光束，进而得到每一个发光二极管晶粒的上表面的影像。 | ||
| 搜索关键词： | 用来 检测 发光二极管 晶粒 外观 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用来检测发光二极管晶粒外观的检测装置，其特征在于，包括：一检测平台，其具有一能移动的中空平台，其中一具有多个发光二极管晶粒的大晶片放置于该检测平台的中空平台上；一分光镜，其设置于该检测平台的上方；一能按该些发光二极管晶粒的类型来调整发光波长的第一光源，其设置于该分光镜的一侧，其中该第一光源所产生的第一光束投向该分光镜，以产生一投向这些发光二极管晶粒的上表面的第二光束，并且该第二光束通过这些发光二极管晶粒的上表面而被反射成一向上投射的第三光束；以及一影像感测组件，其设置于该分光镜的上方，以接收经过该分光镜的第三光束，进而得到每一个发光二极管晶粒的上表面的影像。
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