[发明专利]一种标定光轴上的点在CCD上成像位置的方法无效
| 申请号： | 201010144784.7 | 申请日： | 2010-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN101813474A | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 李建荣;王志乾;赵雁;刘畅;沈铖武;耿天文;刘绍锦 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01C11/00 | 分类号： | G01C11/00 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 南小平 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明标定光轴上的点在CCD上成像位置的方法属于光电测量技术领域，该方法包括如下步骤：把光学测量系统放在带有导轨的平台上，并调平平台、测量系统和目标架，固定目标架；分别给目标架和测量系统上电，设定光轴上的点在CCD上成像位置为W；把测量系统移到平台的位置一，控制测量系统对目标架进行测量，得到的测量Z值为Z1，Z为测量系统光轴与目标架上两目标点连线中点的高度差；把测量系统移到平台的位置二，控制测量系统对目标架进行测量，得到的测量Z值为Z2；比较Z1和Z2，若Z1、Z2不相等，则重新设定W的位置，然后重复测量Z1、Z2，直到Z1＝Z2为止，则这时W的位置为光轴上的点在CCD上成像的位置。本发明操作简单，实用性强，标定精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 标定 光轴 ccd 成像 位置 方法 | ||
【主权项】：
一种标定光轴上的点在CCD上成像位置的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：1)把光学测量系统放在带有导轨的平台上，并对平台调平；2)调平光学测量系统，调平目标架，并且固定目标架；3)分别给目标架和光学测量系统上电，设定光轴上的点在CCD上的成像位置为W；4)把光学测量系统移动到平台的位置一，控制光学测量系统对目标架进行测量，得到的测量Z值为Z1，其中，Z为光学测量系统光轴与目标架上两目标点连线中点的高度差；5)把光学测量系统移动到平台的位置二，控制光学测量系统对目标架进行测量，得到的测量Z值为Z2；6)比较Z1和Z2，如果Z1和Z2不相等，则重新设定W的位置，然后重复步骤4)、5)、6)，直到Z1和Z2相等为止，则这时W的位置为光轴上的点在CCD上成像的位置。
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