[发明专利]一种采用准光学技术的星载双极化毫米波辐射计无效
| 申请号： | 201010145589.6 | 申请日： | 2010-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN102213760A | 公开（公告）日： | 2011-10-12 |
| 发明（设计）人： | 张升伟;李靖;孙茂华;王振占;姜景山;王宏建;蒋长宏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
| 主分类号： | G01S13/00 | 分类号： | G01S13/00;G01S7/02;H01Q19/19 |
| 代理公司： | 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 | 代理人： | 杨小蓉;高宇 |
| 地址： | 100084 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种采用准光学技术的星载双极化毫米波辐射计，该辐射计包含：由一个抛物型天线反射面、馈源、波导结构的极化分离器和两个毫米波接收机；其特征在于，所述的天线反射面包含：一个抛物型的一次反射面和间隔一定距离的平面二次反射面，该平面二次用于将极化分离后的水平或垂直极化波反射至一毫米波接收机；所述的极化分离器采用准光学极化栅网，该极化栅网由由平行分布的金属丝固定在金属框架上形成，且g＜＜λ/2，d＜g，其中g表示相邻金属丝之间的间距，d表示金属丝直径，λ表示入射波波长；所述的极化分离器位于所述的平面二次反射面的下方，且所述的极化分离器所在的平面与水平面成一定夹角，该夹角范围为：30°～60°，该极化分离器用于将一次反射面反射的信号分离为折射和反射两路信号，分别进入所述的两个毫米波接收机进行处理。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 光学 技术 星载双 极化 毫米波 辐射计 | ||
【主权项】：
一种采用准光学技术的星载双极化毫米波辐射计，该辐射计包含：由一个抛物线型天线反射面、馈源、波导极化分离器和两个毫米波接收机；其特征在于，所述的天线反射面还包含一个平面二次反射面，该平面二次反射面用于将极化分离后的水平或垂直极化波反射至一毫米波接收机；所述的极化分离器采用准光学极化栅网，该极化栅网由平行分布的金属丝固定在金属框架上形成，且g＜＜λ/2，d＜g，其中g表示相邻金属丝之间的间距，d表示金属丝直径，λ表示入射波波长；所述的极化分离器位于所述的平面二次反射面的下方，且所述的极化分离器所在的平面与水平面成一定夹角，该夹角范围为：30°～60°。
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