[发明专利]一种球栅阵列焊点重熔测试方法及标记装置无效

专利信息
申请号: 201010147980.X 申请日: 2010-04-09
公开(公告)号: CN101799428A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 王文利;蔡铁;卢鑫;梁永生 申请(专利权)人: 深圳信息职业技术学院
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248 代理人: 胡吉科;刘显扬
地址: 518000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种球栅阵列焊点重熔测试方法,包括如下步骤:使用标记装置在已完成焊接的、电路板上指定区域或一面的球栅阵列焊点上做出标记;取得所述标记图像并保存;完成所述电路板上其他区域或另一面的球栅阵列焊接;再次取得上述标记的图像,并与取得的图像对比。本发明还涉及一种在上述方法中使用的标记装置。实施本发明的一种球栅阵列焊点重熔测试方法及标记装置,具有以下有益效果:有利于及早调节生产步骤,采取有效的措施,从而消除焊接不可靠的隐患,提高生产质量。
搜索关键词: 一种 阵列 焊点重熔 测试 方法 标记 装置
【主权项】:
一种球栅阵列焊点重熔测试方法,其特征在于,包括如下步骤:A)使用标记装置在已完成焊接的、电路板上指定区域或一面的球栅阵列焊点上做出标记;B)取得所述标记图像并保存;C)完成所述电路板上其他区域或另一面的球栅阵列焊接;D)再次取得上述标记的图像,并与步骤B)中取得的图像对比。
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